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542系列 LGK光栅式测微头细长型日本三丰测微仪
更新时间:
2023-02-23
型号:
542系列 LGK
浏览量:
1012
光栅式测微头细长型日本三丰测微仪 542系列LGK ● 沿袭了LGF的抗振性和抗冲击性的细长型,横截面只有LGF-110L-B的1/5。 ● 每种型号的分辨力可以在0.1μm, 0.5μm或1μm之间选择。 ● 滑动的耐久性可至少使用1500万次以上(三丰测试)。 ● 耐冲击性:100G/11ms (IEC 60068-2-27)。
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